Для определения наличия дефектов в полимерных композитах и слоистых материалах можно использовать метод сдвиговой спекл-интерферометрии (шерографии).
Метод сдвиговой спекл-интерферометрии основан на анализе поведения исследуемого участка материала при внешнем воздействии на неё.
Поскольку инспектирование деталей и покрытий из композиционных слоистых материалов становится в связи с их широким использованием все более и более актуальным, для дефектоскопии композитов в настоящее время адаптирован целый ряд методик, ранее успешно себя зарекомендовавших для металлических изделий. В качестве примера можно привести радиационную рентгеноскопию и томографию, ультразвуковой контроль или визуально-оптическое инспектирование. Все вышеприведенные методы, однако, не лишены своих недостатков. Так, для рентгеновских методов требуется сложное и дорогое оборудование, кроме того, размер инспектируемых деталей сильно ограничен. Ультразвуковой контроль требует наличия статистической базы для дефектов, которые требуется обнаружить, и выявляет далеко не все типы дефектов. Наконец, оптические и капиллярные методы применимы в основном для открытых дефектов, тогда как разрушение изделий из композитов часто начинается с закрытого внутреннего дефекта. Все эти недостатки привели к необходимости разработки для композиционных материалов специальных методов контроля, одним из которых является метод шерографии (от англ. “shear”- сдвиг; более правильное название – сдвиговая спекл-интерферометрия).
Сущность метода сдвиговой спекл-интерферометрии заключается в исследовании поведения инспектируемого участка композита ведёт себя при внешнем воздействии (например, нагреве, приложении повышенного или пониженного давления, акустическом или вибрационном воздействии). Исследуемая поверхность облучается до и после воздействия пучком когерентного излучения, которое затем через интерферометрическую систему попадает на ПЗС-матрицу. Интерферометрическая система настроена таким образом, чтобы в каждую точку матрицы попадал сигнал, отраженный от двух точек поверхности, расположенных на определенном расстоянии друг от друга. Это расстояние с учетом направления, в котором одна из точек смещена относительно другой, называют вектором сдвига (рис. 1). Вектор сдвига определяет чувствительность прибора к тем или иным типам и расположению дефектов. Таким образом, на ПЗС-матрице формируется интерференционная картина, соответствующая рассеянию когерентного излучения на инспектируемой поверхности (спекл-интерферограмма).
Рис. 1. Принципиальная схема установки для шерографического обследования с обозначением вектора сдвига (взято из стандарта ASTME 2581 – 07)
Чтобы определить наличие внутреннего дефекта, используется сравнение двух интерферограмм, полученных до и после приложения внешнего воздействия. В ходе цифровой обработки одна интерферограмма вычитается из другой; кроме того, специальные цифровые алгоритмы компенсируют линейную составляющую изменения формы объекта из-за воздействия (связанную, например, с тепловым расширением). Полученный результат (именуемый шерограммой) характеризует картину вздутий, впадин и прочих изменений формы объекта, которые могут возникать из-за наличия в нем дефектов внутренней структуры (например, пузырей или участков непроклея) (рис. 2).
Рис. 2. Шерограммы дефектных областей различных изделий (взято из стандарта ASTME 2581 – 07)
Каждый из методов воздействия лучше подходит для работы с одним типом композитов и хуже – для других. Например, тепловое воздействие определяет многие виды дефектов в углепластике и «сэндвич»-конструкциях, но практически не применяется при анализе защитных покрытий и композитов с пенистой структурой. Американский стандарт «ASTME 2581 – 07 Standard Practice for Shearography of Polymer Matrix Composites, Sandwich Core Material sand Filament-Wound Pressure Vessels in Aerospace Applications» рекомендует для различных материалов применять следующие типы воздействия:
Метод воздействия | Объект контроля (контролируемая область) | |||||
Многослойные угле- и стеклопластики, тонкослойная резина | «Сэндвич» -конструкции с сотовым заполнителем и полимерной матрицей | «Сэндвич» -конструкции с сотовым заполнителем и металлической матрицей | Защитные покрытия, пена, пробковое покрытие | Сосуды давления, изготовленные намоткой | ||
Тепловое воздействие |
расслоения; непроклеи; пористость; слипание |
повреждения от удара; расслоения; непроклеи; замятие заполнителя; включения. |
непроклеи; замятие заполнителя; включения. |
не применяется | не применяется | |
Воздействие повышенным давлением | неприменяется |
заполнитель, сообщающийся с атмосферой: повреждения от удара; непроклеи. |
заполнитель, сообщающийся с атмосферой: повреждения от удара; непроклеи. |
не применяется |
повреждения от удара; расслоения; образование сгустков; дефекты изготовления. |
|
Воздействие пониженным давлением | неприменяется |
непроклеи; смятый заполнитель; включения; непроклеи с другой стороны изделия. |
непроклеи; смятие заполнителя; непроклеи стыкового соединения заполнителя; непроклеи с другой стороны изделия |
непроклеи; отслоения; пустоты; повреждения. |
непроклеи вкладышей (закладных). | |
Акустическое или вибрационное воздействие |
повреждения от удара; расслоения; непроклеи |
непроклеи; смятие заполнителя. |
непроклеи; смятие заполнителя. |
не применяется | не применяется | |
Метод шерографии (сдвиговой спекл-интерферометрии) обладает рядом недостатков, например, сложностью в определении глубины залегания дефектов, высокими требованиями к оборудованию и обслуживающему персоналу, особенно на автоматизированных комплексах для поточного обследования габаритных деталей и т.д. Но следует учесть, что этот метод является относительно новым и постоянно развивается.
Применение метода шерографии (сдвиговой спекл-интерферометрии) для электрической изоляции.
Следует отметить, что метод шерографии позволяет определить типы и расположение дефектов, но этой информации явно недостаточно для определения долговечности электрической изоляции (например, слюдяных лент). Поскольку зависимость долговечности изоляции от размера и расположения дефектов носит крайне сложный характер, то при диагностике электрической изоляции следует пользоваться традиционными методами, такими как, высоковольтные испытания при переменном и постоянном напряжении, измерение частичных разрядов и тангенса угла диэлектрических потерь. Метод шерографии может быть полезен в этом случае только для обнаружения достаточно крупных дефектов в изоляции, когда речь идёт о явном браке изделия.